电子半导体图画法污染度剖析体系

  电子半导体图画法污染度剖析体系是普勒新世纪试验依照普洛帝剖析仪器事业部的规划，于2001年推向市场的老练体系仪器；

  调查颗粒描摹，还可以取得粒度散布、数量、巨细、均匀长径比以及长径比散布等，为科研、生产范畴增添了一种新的粒度测验手法；

  电子半导体图画法污染度剖析体系为一种图画法粒度散布测验以及颗粒型貌剖析等多功能颗粒剖析体系，该体系包含光学显微镜、图画测验CCD摄像头、三维立体载物渠道、图画法颗粒剖析体系软件、电脑、打印机等部分所组成；为科研、生产范畴增添了一种新的粒度测验手法。

  电子半导体图画法污染度剖析体系测验软件具有审计追寻、权限管控、电子记载、测验规范、计量验证、陈述模板、图画存储、颗粒追寻、陈述输出、清洁度剖析等功能；

  全面主动规范挑选、颗粒尺度设定、颗粒计数，或按用户设定规模计数，主动显现剖析成果，并依照有关规范确认产品等级；

  专业软件操控剖析进程，手动对焦，手动光强（颗粒清洁度测验有必要人为干涉进行），主动扫描，主动摄入，主动剖析；

  专用数字摄像机将显微镜的图画拍照及扫描；全主动膜片扫描体系，无缝拼接，数字化显微镜剖析体系；

  航空、航天、电力、石油、化工、交通、港口、冶金、机械、轿车制作、制冷、电子、半导体、工程机械、液压体系等范畴；